X線回折-示差走査熱量同時測定装置 X-ray DSC

  • 有機化合物・医薬品・高分子・無機化合物・セラミックス・電子材料等の評価に不可欠なX線回折とDSCの情報が、同時に収集できます。DSCピークがどんな相転移や生成物の変化によるものか、X線回折パターンの変化に伴う吸発熱変化や熱量の大小など、昇降温時の時々刻々の変化の内容がはっきりわかります。
  • 相転移や反応に伴う結晶状態の変化とともに、温度や熱量が精度よく求められますので、試料や温度履歴の違いによる微妙な差も明瞭になります。
  • クエンチできない試料や貴重な試料も、5~30mg程度の少ない試料で同時測定できます(測定可能な試料量は試料の種類で異なります)。
  • 専用ソフトウェアにより、表示形式を選ぶだけでX線回折プロファイルとDSCプロファイルを結合できます。
  • DSCには熱流束型を採用。温度制御・測温精度・DSC感度が汎用熱分析と同等で、DSC単独測定も可能です。
  • オプションの湿度発生装置HUMを搭載すれば、加湿雰囲気での結晶構造の変化・安定性が評価できます。
  • 測定温度範囲:室温~350℃(オプション:-40℃からの低温測定)
  • 2θ測角範囲:5~55°
  • 昇降温速度:0.5~20℃/min、一定温度保持(測角範囲およびゴニオメータ部定速自動送り速度との組み合わせによる)
X-ray DSC

同一試料・同一温度・同一雰囲気で、相転移や化学反応による熱的変化と結晶状態変化を同時に測定する装置です。X-ray DSC はX線回折とDSC(示差走査熱量計)の同時測定を実現しました。





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