The Bridge (桥梁) Rigaku 每月材料分析电子简报 订阅 XtaLAB Synergy-S 用于分析小分子三维结构的快速敏捷系统 了解详情 TOPIQ: 快速网络研讨会s 在 Covid-19 大流行期间,通过 TOPIQ,Rigaku 的快速网络研讨会系列跟进科学、技术和应用方面的信息。定期增加更多网络研讨会。 了解详情 直面挑战。齐心协力。 Rigaku 为世界各地抗击 COVID-19 的所有人员提供支持。 首席执行官致辞 RIGAKU 的优势 NEX DE VS:高性能小型(可变)光斑台式 EDXRF 元素分析仪 XtaLAB Synergy-DW: 用于多用途衍射的高通量双波长衍射仪 nano3DX: 使用平行波束几何形状的超高分辨率纳米断层成像 特色解决方案 MATERIALS SCIENCE 材料科学 X 射线衍射 (XRD) 是在原子和分子层面研究高级材料的主要技术。 了解详情 CRYSTALLOGRAPHY 晶体学 该技术采用单晶 X 射线衍射 (SXRD) 来明确判定分子的三维结构。 了解详情 SEMICONDUCTORS 半导体 对于半导体制造领域基于 X 射线的测量工具,Rigaku 是设计和制造方面的先驱和领导者。 了解详情 PETROLEUM 石油 XRD 和 XRF 仪器可在勘探、生产和分配过程的每个阶段进行材料表征。 了解详情 PROCESS CONTROL 过程控制 分析信息(如元素分析和化学成分)为统计过程控制提供关键数据。 了解详情 EDUCATION 教育 我们的台式产品系列旨在使我们的 X 射线技术成为常规的实验室方法和教学工具。 了解详情 GEOLOGY & MINERALS 地质和矿产 X 射线荧光和 X 射线衍射是对地质材料元素和相成分进行表征的关键技术。 了解详情 NANOPARTICLES 纳米颗粒 纳米粒子和纳米晶体材料的物理和化学性质受其粒径和形状的强烈影响。 了解详情 PHOTOVOLTAICS 光伏 X 射线技术通常用于测量薄膜层的特性(分子结构的厚度),以进行研发和生产。 了解详情 PHARMACEUTICALS 药物 单晶和粉末 X 射线衍射被广泛用于药物发现、设计、开发和配制过程中。 了解详情 POLYMERS & PLASTICS 聚合物和塑料 对于聚合物研究、产品开发和产品质量控制领域的所有工作,X 射线技术都是核心分析工具。 了解详情 CEMENT 水泥 水泥工业采用 X 射线分析技术来确定金属氧化物浓度和游离石灰。 了解详情 MINING & REFINING 采矿和提炼 XRF 和 XRD 是对从采矿到金属的地质材料元素和相成分进行表征的关键技术。 了解详情 关于 RIGAKU 应用备注 Rigaku 提供数百种经过验证的解决方案,可满足您的所有分析需求。 应用备注 视频专区 无需阅读任何内容,即可了解 Rigaku 和我们的产品。 视频专区 活动与培训 想面对面交谈吗?来参加贸易展览或会议吧。 查找会议 RIGAKU 期刊 《Rigaku 期刊》从 1984 年开始发表基于 X 射线的尖端科学。 期刊图书馆 加入我们(会议列表) 在这些活动中了解有关我们产品的更多信息 (查看详情 ) ACS Spring 2024 三月 17, 2024 - 三月 21, 2024 New Orleans, LA Website XTOP 三月 17, 2024 - 三月 22, 2024 Carry Le Rouet, France Website 87. Jahrestagung der DPG und DPG-Frühjahrstagung der Sektion Kondensierte Materie 三月 17, 2024 - 三月 22, 2024 Berlin, Germany Website 32nd Annual Meeting of the German Crystallographic Society (DGK) 三月 18, 2024 - 三月 21, 2024 Bayreuth, Germany Website TOPIQ | High-Pressure Crystallography on the Rigaku XtaLAB Synergy-S Diffractometer 三月 22, 2024 Webinar Register 最近的新闻稿 最近的新闻稿 (查看详情 ) 三月 12, 2024 Rigaku Opens Taiwan Branch to Enhance Collaboration and Innovation 二月 25, 2024 New Rigaku EDXRF Spectrometer reinvents XRF technology 二月 1, 2024 Growth of Patent Family for DD, Rigaku Unique Technology 二月 1, 2024 Rigaku Announces Grant Assistance Program to Help Support Illicit Narcotics Interdiction 一月 10, 2024 Rigaku Analyzes Samples Collected by NASA’s OSIRIS-REx RIGAKU 期刊文章 Because...Science Matters! Summer 2020, Volume 36, No. 2 Technical article Katsuhiko Inaba Defect structure analysis in single crystal substrates using XRTmicron Winter 2018, Volume 34, No. 1 Technical article Yukiko Namatame, Takahiro Kuzumaki, Yuji Shiramata and Keigo Nagao Use of multi-dimensional measurement in powder X-ray diffraction Summer 2008, Volume 24, No. 1 Technical article Katsuhiko Inaba X-ray thin-film measurement techniques I. Overview 期刊图书馆 我们的位置 RIGAKU 部门