组成

用于元素分析和相位分析的XRF和XRD

组成X射线荧光(XRF)和X射线衍射(XRD)是两种非破坏性确定未知样品组成的常用技术。X射线荧光提供从元素B到元素U的从百万分率(PPM)到百分率的元素组成信息。使用基本参数(FP)法,XRF可以提供无需参考标准的定量分析。X射线衍射提供相组成鉴定和并且可以区分样品中主要、次要和微量成分。XRD分析包括物质的矿物名称、化学式和晶体系统和ICDD国际数据库的参考图谱编号。无标准的定量信息也可从XRD Rietveld分析中获得。

仪器

MiniFlex   MiniFlex
用于物相分析和晶相的定量分析等常规目的的新型第6代台式XRD仪器
  SmartLab   SmartLab
通过系统指导软件(Guidance)运行的最新锐的高分辨率XRD仪器
  Ultima IV   Ultima IV
用于应用程序从研发到品质管理的高性能多功能的XRD仪器
RAPID II   RAPID II
弯曲成像板(IP)XRD仪器,特点为极大孔径和旋转阳极或密封型X射线管线源(二选一)
  Supermini   Supermini
台式下照射式WDXRF光谱仪分析元素范围从F到U的固体、液体和粉末样品
  ZSX Primus   ZSX Primus
高功率、下照射式、具有Mapping分析和超轻元素性能的连续WDXRF光谱仪
ZSX Primus II   ZSX Primus II
高功率、上照射式、具有Mapping分析和超轻元素性能的连续WDXRF光谱仪
  Simultix 15   Simultix 15
高功率、下照射式、多道同时WDXRF光谱仪分析元素范围从Be到U
  MFM310   MFM310
用于图案化晶片的工程管理用XRR、XRF和XRD计量工具,最高可测量300mm的晶片