ZSX Primus400
大径試料(φ400mm×50mm)をそのまま測定できるほか、質量30 kgまでのサンプルを受け入れ、スパッタリングターゲット、磁気ディスクの分析、多層フィルムの計測、または大型サンプルの元素分析に最適です。多彩なアダプターにより、様々な形状の試料や、多試料の測定にも対応できる蛍光X線分析装置です。
ZSX Primusシリーズで定評あるソフトウェア「ZSX Guidance」の搭載により、優れた操作性・メンテナンス性を実現。ヒューマンエラー防止機能を備え、分析初心者でも正確な分析結果を得られるようサポートします。
内蔵する高解像度カメラで試料の画像を観察しながら測定位置指定し、ポイント・マッピング測定を行うことも可能です。軽元素・超軽元素も測定対象とした高精度なマッピング測定への要求に応えます。
走査型蛍光X線分析装置
多彩なアダプターにより、様々な形状の試料や、多試料の測定にも対応できる蛍光X線分析装置
仕様
製品名 | ZSX Primus 400 |
手法 | 波長分散蛍光X線分析(WDXRF) |
用途 | 固体、粉末、合金および薄膜の元素分析 |
テクノロジー | 走査型 波長分散蛍光X線分析(WDXRF) |
主要コンポーネント | 3 / 4 kW密閉型X線管、r-θステージ |
オプション | 追加分析用クリスタル、各種サンプルホルダー、カメラ |
制御(PC) | 外部PC、MS Windows® OS、ZSX Guidanceソフトウェア |
本体寸法 | 1376 (W) x 1439 (H) x 890 (D) mm |
重量 | 約 800 kg(本体) |
電源 | 三相 200 VAC 50/60 Hz, 8 kW |