全自動多目的X線回折装置 SmartLab
- ガイダンス機能
リガクの分析ノウハウを凝縮した SmartLab Studio II ソフトウェアが、各アプリケーションに最適な光学系ユニットの選択から、測定条件の設定・実行までの測定シーケンスを自動的に設定します。 - ハイパフォーマンスX線源 PhotonMax
出力9kWのファインフォーカスX線源です。新メカニカルシールを採用し、ターゲットのライフタイムが大幅に改善されました。 - ハイブリッドピクセルアレイ検出器 HyPix-3000
優れたエネルギー分解能がバックグラウンドノイズの抑制に大きく貢献します。2次元検出器としてだけでなく、1次元検出器や0次元検出器としても使用できます。 - 長期保証
高機能なX線回折装置を使いたいが、メンテナンスコストが心配というお客様の声にお応えして、安心の長期保証をご提案いたします。PhotonMax:3年または10,000時間保証
HyPix-3000:5年保証
ゴニオメーター:10年保証 - CBOファミリー
リガクの特許技術であるCross Beam OpticsTM(CBO)を標準装備し、各種基本光学系の切り替え操作をシンプルにしました。
各種ビーム形状に対応するCBOシリーズにより、発散ビーム・平行ビーム・集光ビームの切り替えが容易です。 - 多彩な薄膜評価手法を身近に
サンプルの設計膜厚や予想される結晶性などを入力するだけで、そのサンプルに最適な測定手順が設定されます。対応薄膜評価アプリケーション:組成分析、方位・配向分析、結晶性評価、格子緩和評価、格子歪・残留応力評価、膜厚分析、界面ラフネス分析、密度分析、面内均一性評価など - 小角散乱測定をシンプルに
MRSAXSプラグインを用いて、小角散乱データの詳細な解析が簡単にできます。対応各種小角散乱アプリケーション:液体分散ナノ粒子の粒径分布解析、薄膜またはバルク中ナノ粒子/空孔のサイズ分布解析、ナノ粒子/空孔の形状評価、不規則な電子密度分布の相関関数解析など - 粉末解析を簡単に
SmartLabはサンプル情報に基づいて測定光学系を提案し、光学素子の設定、測定条件の設定、そしてデータ測定までの一連のプロセスを、ユーザーフレンドリなダイアログを通じて支援します。各種粉末アプリケーション:定性分析、定量分析、結晶化度評価、結晶子サイズ/格子歪評価、格子定数の精密化、Rietveld解析など - ユニット交換作業の簡素化
接触型コネクタ方式採用により、測定目的に応じてユニットを交換する際に、ケーブル類の抜き差しや電源OFFの必要がありません。どなたでも試料交換や光学系交換が容易に行えます。 - 人間工学に基づいた装置デザイン
背の高い人にも頭部に圧迫感を与えず自然な操作性を確保しました。また、起立、着座にかかわらず測定室の中を確認できるよう、それぞれの視線に合わせた6面の窓の位置設定により、視認性を向上させました。
SmartLabは、幅広い分析手法や各種材料に最適な測定テクニックを知り尽くしたリガクの測定スペシャリストが、そのノウハウをパッケージ化することに成功し、業界ではじめて装置が最適条件を教えてくれるガイダンス機能を実現した装置です。膜厚測定、配向測定、粒径空孔径分布測定など、従来難しかった薄膜材料の測定を、専門的な知識がなくとも可能にしました。
SmartLab シリーズ システム統合ソフトウェア SmartLab Studio II
測定と解析がひとつになった統合分析ソフトウェア
SmartLab Studio IIは、SmartLab シリーズに必要なすべての測定と解析アプリケーションがひとつにまとめられた統合分析ソフトウェアです。ソフトウェアの起動時間やログインの回数などが最小限に抑えられ、測定と各種解析をワンクリックで切り替えることができ、無駄な時間を一切作らずに分析に集中することができます。レイアウトを変更すれば、測定をリアルタイムでモニタしながら、解析を行うことも可能です。

自動化を極める“ユーザーガイダンス”
リガクのノウハウを結集した「ユーザーガイダンス」は、最高の測定結果へ導くための機能です。各アプリケーションに最適な光学系を選択し、自動で光学系調整を行います。また、複雑な測定を行うための試料位置調整条件や測定条件を自動で設定します。パッケージと呼ばれる自動化されたシーケンスには、測定を実行するために必要なすべての情報が登録されています。また、装置メンテナンス用のパッケージも用意されており、たとえばX線管球交換後の光学系や検出器の調整を、すべて自動で行うことが可能です。ユーザー自身によるパッケージの作成も可能です。作成されたパッケージはユーザー定義のパッケージとして保存され、いつでも選択、実行が可能です。
解析アプリケーション
これまで同様、X線分析に不慣れな初心者でも最高の解析を行うことができるように、ほとんどの解析条件がデータに応じて設定されるようになっています。SmartLab Studio IIではさらに、X線分析の上級者の方々にも満足していただけるよう、様々なパラメータが用意されており、細かい解析条件の設定が可能になっています。統合ソフトウェアであるがゆえ、ユーザー管理機能、材料データベースなどが完全に共通化され、ソフトウェアの使い方を習得する手間を最小限に抑えることができます。充実したグラフィック機能やレポート作成機能も簡単に使いこなすことができ、解析結果の吟味・評価やプレゼンテーション資料の作成を強力にサポートします。
データベースとネットワークライセンス
測定データや解析結果はデータベースに保存されます。データベースには優れたデータ検索機能、ブラウジング機能、バックアップ機能などが備わっており、例えば、2次元検出器を用いて得られる膨大な数の巨大なサイズの画像データの管理などに威力を発揮します。また、SmartLab Studio IIはネットワークライセンスに対応しています。たとえば、多くのユーザーが同じSmartLab シリーズ システムを使う場合、データベースとネットワークライセンスを組み合わせれば、膨大な数のデータの一括管理(集中管理)を容易に行うことができます。
黒鉛・グラフェン分析インデックス
グラフェンや黒鉛結晶の遷移状態・性状の同定、原産地判定、製造方法判定などが可能となる指数を計算するソフトウェア「GG Index(Graphene/Graphite Index)」
(詳細はPDFを参照下さい:760KB)

- X線ロッキングカーブ法によるGaN薄膜の結晶性(チルト・ツイスト)評価
- インプレーン回折法、およびX線反射率法によるhigh-k材料(HfO2)の評価
- インプレーン回折法による次世代磁気記録媒体(FePt)の評価
- すれすれ入射X線散乱法(反射X線小角散乱法)による低誘電率層間絶縁膜(Low-k膜)の評価
- ラビング処理ガラス基板上Cuフタロシアニン薄膜の分子配向評価
- インプレーン逆格子マップ法によるZnO薄膜の方位評価
- 有機TFT用ペンタセン薄膜の結晶相および配向状態観察
- 2次元検出器による強誘電体薄膜の配向評価
- 有機TFT応用セキシチオフェン(6T)薄膜の分子配向評価
- X線回折法によるhigh-kゲート絶縁膜の構造評価
- X線反射率法による薄膜評価
- ホイスラー合金薄膜の熱処理による構造変化
- 逆格子マップによるSGOIウェーハの結晶性評価
- 高速2次元検出器によるCu薄膜材料の配向性評価
- 深さ方向の変化を非破壊で見る ~InN/GaN/GaAsの場合~
- 薄膜の3次元的な配向状態を調べる ~2&theta/&theta測定とインプレーン測定を組み合わせた配向評価~
- DVD記録層の結晶構造評価
- Direct Silicon Bonding(DSB)基板の接合界面および結晶性の評価
- グレーティングパターンのCD計測と断面形状評価
- 広域逆格子マップ測定のデータから異なる配向の存在を評価する
- 高速1次元X線検出器による逆格子マップ測定~SiGe薄膜の格子歪み量(緩和率)の評価~
- WPPF法とRIR法を用いた定量結果の違い ~ 配向を持つ試料の定量分析 ~
- 1 mm以下の微小領域の測定 ~ アスベストは蛇紋岩に含まれているのか? ~
- 酸化鉄の定性・定量分析
- メソポーラスシリカの構造を明らかにする
- リチウムイオン電池正極材料の充放電に伴う構造変化のその場観察
- 天然鉱物中に含まれる0.5 mass%未満のアスベストの測定
- 平行ビーム光学系による赤外線加熱高温装置を用いた格子定数の温度依存性評価
- 高速一次元検出器D/teX Ultra2による鉄系試料中の微小ピークの検出
- 圧延板の結晶方位解析
- 極点解析におけるDefocus補正
- ポリイミドフィルム中の銅ナノ粒子の粒子径分布測定
- 酸化亜鉛ナノ粒子の結晶子サイズ分布解析
- ナノ構造体の評価~ 鉄内包フェリチン ~
- 温湿度変化に伴う医薬品の結晶系変化(1)~ XRD・DSC同時測定による結晶系の変化観察~
- 温湿度変化に伴う医薬品の結晶系変化(2)~ XRD・DSC同時測定による結晶系の変化観察 ~
- 原薬中の微量非晶質成分の高感度測定
- 錠剤中の疑似多形不純物の非破壊測定
- 低温下におけるイオン液体の結晶化挙動(1)
- 低温下におけるイオン液体の結晶化挙動(2)
- 金ナノ粒子の粒子径分布解析
- 多孔質物質(メソポーラスシリカ)の細孔径分布解析
- 平行ビーム光学系による有機結晶の粉末結晶構造解析(1)
- 平行ビーム光学系による有機結晶の粉末結晶構造解析(2)
- EXPO2009を用いた直接法による粉末結晶構造解析
- 不純物を含む試料からの未知結晶構造解析(1)~ フルフェナム酸共結晶 ~
- 不純物を含む試料からの未知結晶構造解析(2)~ フルフェナム酸共結晶 ~
- 高速一次元検出器を用いた微量結晶多形成分の定量
- 粗大結晶粒をもつ試料の結晶方位測定
- X線小角散乱法によるサブナノ金粒子の粒子径分布
- 粒子径によって異なる蛍光発光スペクトルを示すCdSeナノ粒子の粒子径分布
- 高分解能集光ビーム光学系による有機結晶の粉末結晶構造解析
- 高速二次元検出器を利用した微小領域測定 ~ 超硬バイトの微小領域評価 ~
- 錠剤中の原薬の結晶形同定 ~集光光学系を用いた非破壊・透過測定~
- 凍結乾燥プロセス中に現れる結晶相の同定~試料低温・高温アタッチメントの活用~
- NiSi合金の熱膨張率測定~WPPF法による格子定数精密化~
- 多目的試料高温装置を用いた無機物質のIn-situ測定
- Ptナノ粒子の水素導入前後における粒径分布・結晶子サイズ解析
- X-ray DSCとCu Kα1光学系を用いた医薬品の未知結晶構造解析
- 高分子フィルムの3方位測定と配向度解析
- 結晶方位分布(ODF)解析によるCu配線膜の評価
- X-ray DSCを用いた高分子膜の評価
- 電子基板の微小領域マッピング測定
- 多結晶Si特定ドメインの極点測定
- 微小量試料の低バックグランド高速測定
- 植物性油脂の冷却に伴う結晶形変化の観察 ~2次元検出器を用いた1秒間時分割測定~
- 金属部品の応力マッピング測定
