Kompakte Röntgenstrukturanalyse

Qualitative und quantitative Analyse polykristalliner Materialien

MiniFlex

Das MiniFlex sechster Generation ist ein Universal-Röntgendiffraktometer, mit dem sich qualitative und quantitative Analysen polykristalliner Materialien durchführen lassen. Es ist in zwei Ausführungen erhältlich: Das MiniFlex 600 mit 600 Watt-Röntgenröhre ist mehr als doppelt so leistungsfähig wie vergleichbare Geräte seiner Größe und ermöglicht so schnellere Analysen bei rundum verbesserter Performance. Das MiniFlex 300 mit 300 Watt-Röntgenröhre kommt ganz ohne externes Kühlsystem aus. Beide Modelle bieten maximale Flexibilität in kompaktem Design.

Der rasanten Entwicklung heutiger Röntgenstrukturanalysen wird das MiniFlex sechster Generation durch Geschwindigkeit und Präzision dank innovativer Technologieverbesserungen wie dem D/teX Ultra Hochgeschwindigkeitsdetektor verbunden mit einer 600 Watt-Röntgenquelle gerecht. Der optionale Graphit-Monochromator in Kombination mit dem Szintillationszähler oder D/teX Ultra im 0D-Modus ermöglicht höchste Messempfindlichkeit durch Optimierung des Signal/Untergrund-Verhältnisses. Weiter ist mit dem HyPix-400 MF erstmals ein 2D-Detektor für das MiniFlex verfügbar. Für Analysen, bei denen die Auflösung Priorität hat, lässt sich durch Anordnung verschiedener Blenden für Einfall- und Beugungsstrahlen die gewünschte Auflösung erzielen. Für Analysen mit hohem Durchsatzvolumen kann das MiniFlex als einziges kompaktes Röntgendiffraktometer mit einem 8-fach-Probenwechsler ausgestattet werden. Ob in akademischer Lehre oder bei Routine-Qualitätskontrollen in der Industrie – das MiniFlex bietet Leistung und Effizienz in einem.

Jedes MiniFlex wird in der Standardausführung mit der neuesten Version von PDXL geliefert, dem Software-Komplettpaket für Pulverdiffraktionsanalysen. Die neueste Version von PDXL enthält weitere neue Features für eine verbesserte Funktionalität: dazu zählt eine Fundamental Parameter-Methode (FP), welche noch präzisere Peakberechnungen ermöglicht. Darüber hinaus werden Phasenbestimmungen mittels Crystallography Open Database (COD) und ein digitaler Assistent für ab-initio-Kristallstrukturanalysen geliefert.

Das erste MiniFlex, vorgestellt im Jahr 1973, wurde dazu entwickelt, Einsteigern mit Hilfe eines kompakten Röntgendiffraktometers zu Ergebnissen zu verhelfen, die denen von erfahrenen Kristallographie-Experten in nichts nachstehen. Das MiniFlex sechster Generation baut auf die Merkmale, die seit vielen Jahren die Beliebtheit der Produktserie begründen: kompakte Größe und robustes Design, einfache Handhabung und kostengünstiger Betrieb bei nur geringem Platzbedarf.

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Überblick:

  • 2017: Neuestes Design der 6. Generation
  • Kompaktes, störungssicheres Strahlenschutzgehäuse
  • Variabel einstellbarer Strahlendurchlass
  • Einfache Installierung und Benutzertraining
  • Vorab eingestelltes Goniometer
Röntgenstrukturanalyse:
  • Phasenidentifizierung
  • Phasenquantifizierung
  • Prozentangabe (%) der Kristallinität
  • Kristallitgröße und Kristalldeformation
  • Kristallgitterparameterverfeinerung
  • Rietveld-Verfeinerung
Optionen:
  • Automatischer 8-Positionen-Probenwechsler
  • Silizium-Halbleiterdetektor D/teX Ultra
  • Graphit-Monochromator für D/teX Ultra und Szintillationszähler
  • 2D-hybrid pixel area detector HyPix-400 MF
  • Halterung für luftempfindliche Proben
  • Transportbehälter

MiniFlex accessories

AccessoryASC-8 : automatic 8 position sample changer with spinner
Automatic 8-position sample changer is compact and rugged. Integrated spinning improves particle statistics in polycrystalline sample measurements. Fully automatic alignment. Programmable.
 
AccessorySample holders
Various sample holder are available to meet the specific needs of particular applications.
 
AccessorySpecimen rotation attachment
The sample rotation stage allows continuous rotation at variable
speed of the sample holder to improve particle statistics during
powder diffraction measurements.
 
AccessoryGraphite monochromator for D/teX Ultra
The graphite monochromator optimizes sensitivity by lowering the background level. It improves signal-to-noise by eliminating fluorescence from Mn, Fe, Co, and Ni containing materials.
 
AccessoryAir-sensitive sample holder
An enclosed sample holder is available for users studying materials that might degrade in the presence of oxygen.
 
AccessoryD/teX Ultra high speed detector
This 1D silicon strip detector is optionally available for fast, high-resolution scanning.
 
AccessoryBTS 500 high temperature attachment
The high temperature attachment can heat a sample to do in-situ powder diffraction measurements under high temperature conditions from ambient to 500°C.
 
AccessoryHyPix-400 MF: 2D HPAD detector
Advanced hybrid array pixel detector (HPAD) with zero background noise, an active area of ​​400 mm2, spatial resolution of 100 μm, and maximum count rate of 106 cps/pixel or more. HyPix-400 can operate in 0D, 1D or 2D modes.

SmartLab Studio II is a new Windows®-based software suite developed for the flagship Rigaku SmartLab X-ray diffractometer that integrates user privileges, measurements, analyses, data visualization and reporting. Newly available for the MiniFlex, the modular (plugin) architecture of this software delivers state-of-the-art interoperability between the functional components. Just one click switches from measurement to analysis. Watch real-time scans from one experiment while simultaneously analyzing other data on the same desktop by selecting an appropriate layout. The software provides various analysis tools such as automatic phase identification, quantitative analysis, crystallite-size analysis, lattice constants refinement, Rietveld analysis, ab initio structure determination, etc.

Powder XRD: phase identification with a variety of available databases

Peak position, FWHM, integrated intensity and crystallite size are calculated by profile fitting. Rigaku’s optional “Hybrid Search/Match” uses peak-base qualification, which detects heavily distorted lattices, to identify solid solution phases that are difficult to identify. It also can determine whether preferred orientation exists based on decomposed peak intensities.

Powder XRD: quantification package

This option supports internal standard, external standard, and standard addition calibration methods. Calibration curves are used to quantify specific phases in the sample.

Powder XRD: comprehensive analysis package

This optional package can provide analysis results such as crystalline size, lattice strain, lattice parameters refinement, % crystallinity based on fully automated profile fitting executed after loading measured data. Results obtained aid in understanding the relationship between structure and physical properties, and allow users to compare results across different samples.

Powder XRD: direct derivation analysis package

The direct derivation (DD) method was invented by Professor Hideo Toraya of Rigaku Corporation in 2016. It quantifies phases from all integrated diffraction intensities and the chemical formulas of each phase found. Compared to the classical RIR method, where a single integrated peak intensity and RIR number are used, the DD method is less affected by preferred orientation and peak overlap.

Powder XRD: Rietveld analysis package

The package performs phase identification followed by Whole Powder Pattern Fitting (WPPF). The Rietveld analysis refines crystal structure or quantifies the phases directly from measured data, requiring neither reference samples nor a calibration curve. The whole powder pattern decomposition (Pawley method) is based on both the measured peak positions, and peaks shapes.

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