Instruments rayons X de diffraction de comptoir (XRD)

L’année 2012 annonce les plus récents ajouts à la série MiniFlex des rayons X de diffraction (RXD) de comptoir. La nouvelle cinquième génération MiniFlex est un diffractomètre à rayon X pour utilisation générale, qui effectue une analyse quantitative des matériaux poly cristallins. MiniFlex est maintenant disponibles en deux variantes. Fonctionnant à 600W (tubes a rayons X), le MiniFlex est deux fois plus puissant que les autres modèles de comptoir, permettant une analyse plus rapide et une amélioration du débit global. Fonctionnant à 300W (tube a rayons X), le nouveau MiniFlex 300 ne nécessite pas un échangeur thermique externe. Chaque modèle est conçue pour maximiser la flexibilité dans un paquet comptoir.

Idéalement adapté pour des analyses DRX rapide du moment, la nouvelle 6eme génération MiniFlex fournit une vitesse et une sensibilité grâce à des améliorations technologique innovatrice telle que le facultatif détecteur de vitesse élevée D/TEX, couplé au nouveau 600W source a rayon X. L’optionnel monochromateur graphite, couplé avec le standard compteur à scintillation, maximise la sensibilité du ratio crête-à-fond. Si la résolution est primordiale, l’incident et le faisceau diffracté peut être sélectionné pour fournir la résolution souhaitée. Pour un haut débit d’échantillonnage, MiniFlex est le seul system de comptoir DRX avec un change d’échantillons disponible. Que l’enseignement à rayon X de diffraction se fasse au niveau collégial et universitaire, ou pour une routine d’assurance de la qualité industrielle, le MiniFlex délivre à la fois la de la performance et de la valeur.

Chaque MiniFlex est livre avec la dernière version de PDXL, la version complète d’analyse de diffraction de poudre de Rigaku. La dernière version de PDXL offre de nouvelles fonctionnalités importantes ; une méthode de paramètres fondamentale(PF) pour un calcul plus précis de pointe, l’identification de phase en utilisant la base de données ouverte Cristallographie, (BDOC) et un assistant pour ab initio analyse de la structure cristalline.

L’original MiniFlex, introduit en 1973, à été désigné pour permettre a un utilisateur novice de produire des résultats, avec un instrument DRX compact, comparable à ceux obtenus par un réfractionniste de formation. Le nouveau MiniFlex s’appuie sur les caractéristiques qui l’ont rendu populaire depuis de nombreuses années : une taille compacte et une conception robuste qui permet d’être installé dans un petit espace avec une manœuvre facile et un très faible cout de possession.