FOTOVOLTAICOLas técnicas de rayos X se usan típicamente para medir las características (espesor a estructura molecular) de capas de película delgada para investigación y desarrollo en producción. |
FOTOVOLTAICOLas técnicas de rayos X se usan típicamente para medir las características (espesor a estructura molecular) de capas de película delgada para investigación y desarrollo en producción. |