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Polymers, plastics and rubber

Polymers, plastics and rubber

Element & phase analysis, particle sizes and molecular structure

For all tasks in polymer research, development and production quality control, X-ray Fluorescence (XRF) analysis can identify and quantify the concentrations of additives (pigments, fillers, flame retardants, stabilizers) such as antimony, barium, bromine, calcium, chromium (in accordance with RoHS/WEEE regulations), copper, phosphorus, titanium or zinc. In addition, many plastic polymers have some degree of order that can be identified and studied by X-ray Diffraction (XRD) methods. The percent crystallinity—measured with XRD—can correlate to processing methods. The determination of unit cell type, lattice parameters, microstructure and crystallographic orientation through pole figures can be of importance. Periodic or crystalline structures on the nanoscale can be examined by Small Angle X-ray Scattering (SAXS) and Wide Angle X-ray Scattering (WAXS). Rigaku offers comprehensive Instruments and services for all methods.   

Rigaku recommends the following systems:


WDXRF

El espectrómetro secuencial WDXRF con tubo inferior de sobremesa, analiza de O a U en sólidos, líquidos y polvos.

Espectrómetro WDXRF secuencial de tubo inferior, de alta potencia, con el Sistema Inteligente de Carga de Muestras (SSLS)

Espectrómetro secuencial WDXRF de alta potencia, de tubo superior con nuevo software de sistema experto Guidance (Guía) ZSX.

Espectrómetro secuencial WDXRF de tubo superior (por arriba) y de alta potencia

High-power, tube-below, sequential WDXRF spectrometer with new ZSX Guidance expert system software

XRD

Nuevo sistema XRD de sobremesa de uso general de sexta generación para identificación y cuantificación de fase

Difractómetro de rayos X multipropósito altamente versátil con guía inteligente incorporada

Sistema XRD multipropósito de alto rendimiento para aplicaciones que van desde I+D hasta el control de calidad.

EDXRF

El analizador elemental EDXRF de bajo costo mide de Na a U en sólidos, líquidos, polvos y películas delgadas

El analizador elemental EDXRF de rendimiento mide de Na a U en sólidos, líquidos, polvos y películas delgadas

Nuevo sistema EDXRF de 60 kV con software QuantEZ y análisis sin estándares opcional.

Nuevo sistema EDXRF de colimador variable de pequeño punto de 60 kV con software QuantEZ

Espectrómetro EDXRF con potente software de Windows® y FP opcional

El analizador elemental EDXRF de geometría cartesiana de alto rendimiento mide de Na a U en sólidos, líquidos, polvos y películas delgadas

SAXS

Small and wide angle X-ray scattering instrument designed for nano-structure analyses

Un sistema Kratky 2D modernizado que elimina las correcciones de datos requeridas por los sistemas tradicionales

X-ray CT

Microtomografía de muestra estacionaria de alta velocidad, de muestras grandes

Nanotomografía de resolución ultra alta utilizando geometría de haz paralelo.

Thermal Analysis

TG-DTA is a hyphenated technology generally referred to as simultaneous thermal analysis (STA).

 

 

Applications

The following applications are relevant to this industry

WDXRF

EDXRF

X-ray Imaging

EGA, Thermal Analysis

XRD

Process

SAXS

Thermal Analysis