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Food and Food Ingredients

Food and food ingredients

Safety, efficacy and content labeling are key requirements in the food industry. At-line or near-line monitoring of production processes improve cost savings by decreasing waste, rework and materials costs. The US FDA, the European Union and various other entities around the world strictly regulate the allowable concentrations of heavy metals in food, drugs and other products and packaging; for example, the over-the counter (OTC) pharmaceutical regulations for cosmetics in the U.S. Rigaku supplies a wide range of dedicated X-ray Fluorescence (XRF) instruments for elemental analysis and X-ray Diffraction (XRD) instruments for phase and structural analysis for both R&D and production applications. Rigaku’s Small Angle X-ray Scattering (SAXS) instruments are the perfect solution for particle size analysis of optically opaque formulations.

Rigaku recommends the following systems:


WDXRF

El espectrómetro secuencial WDXRF con tubo inferior de sobremesa, analiza de O a U en sólidos, líquidos y polvos.

Espectrómetro secuencial WDXRF de alta potencia, de tubo superior con nuevo software de sistema experto Guidance (Guía) ZSX.

High-power, tube-below, sequential WDXRF spectrometer with new ZSX Guidance expert system software

XRD

Nuevo sistema XRD de sobremesa de uso general de sexta generación para identificación y cuantificación de fase

Sistema avanzado de rayos XRD de alta resolución y tecnología de punta, impulsado por el software del sistema experto Guidance

EDXRF

El analizador elemental EDXRF de bajo costo mide de Na a U en sólidos, líquidos, polvos y películas delgadas

El analizador elemental EDXRF de rendimiento mide de Na a U en sólidos, líquidos, polvos y películas delgadas

Nuevo sistema EDXRF de 60 kV con software QuantEZ y análisis sin estándares opcional.

Nuevo sistema EDXRF de colimador variable de pequeño punto de 60 kV con software QuantEZ

Espectrómetro EDXRF con potente software de Windows® y FP opcional

El analizador elemental EDXRF de geometría cartesiana de alto rendimiento mide de Na a U en sólidos, líquidos, polvos y películas delgadas

X-ray CT

Microtomografía de muestra estacionaria de alta velocidad, de muestras grandes

Nanotomografía de resolución ultra alta utilizando geometría de haz paralelo.

Microtomografía de muestras grandes de alta resolución, de sobremesa

Process

Analizadores de escaneo de proceso de elementos múltiples, para aplicaciones de tira o bobina.

Applications

The following applications are relevant to this industry

XRD

EDXRF

Process

Total reflection XRF (TXRF)