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Materials science

Materials science

Element / phase analysis and molecular structure

Characterization and compositional analysis of substances like metals, ceramics or plastics that are part of any application—including space science, defense technology or any other kind of technology or product—are key in material science. X-ray technology can investigate elemental composition and layer thickness by X-ray Fluorescence (XRF) in semiconductors or other new materials. X-ray Diffraction and Scattering are primary techniques to study crystalline phases, their degree of crystallinity or crystallographic structure and orientation, texture or residual stress. XRT (X-ray topography) investigates crystalline defects in advanced materials like semiconductors, and X-ray reflectometry (XRR) measures layer thicknesses, roughness and interlayer diffusion. Associated diffuse scattering methods like SAXS examine the nature of the molecular structure of films, coatings and layers or particles in disciplines like biology, chemistry, physics, and engineering. Rigaku advanced technology and experience provide a variety of non-destructive, state-of-the-art analytical solutions and services for your materials. 

Rigaku recommends the following systems:


Single crystal

Nuestro difractómetro más popular para la cristalografía química, configurado con fuentes de rayos X de microfoco de tubo sellado simple o doble y un detector de detección de rayos X directo, de ruido extremadamente bajo.

Un difractómetro de rayos X de monocristal de sobremesa, ideal para la cristalografía de autoservicio y la enseñanza.

Un difractómetro moderno de rayos X de monocristal para el análisis estructural de muestras de moléculas pequeñas configurado con la tecnología de microfoco de tubo sellado y un detector de detección de rayos X directo.

Un difractómetro de rayos X de monocristal con un generador de rayos X de microfoco de ánodo giratorio de alto flujo y un detector de rayos X HPC de detección directa

Un sistema personalizado de difracción de rayos X de monocristal que tiene la capacidad de utilizar ambos puertos de una fuente de rayos X de ánodo giratorio.

XRD

Nuevo sistema XRD de sobremesa de uso general de sexta generación para identificación y cuantificación de fase

Sistema avanzado de rayos XRD de alta resolución y tecnología de punta, impulsado por el software del sistema experto Guidance

Difractómetro de rayos X multipropósito altamente versátil con guía inteligente incorporada

Sistema XRD multipropósito de alto rendimiento para aplicaciones que van desde I+D hasta el control de calidad.

Stress

Análisis XRD de laboratorio de la tensión residual de micropuntos con métodos de inclinación iso y lateral

Small Molecule

Software de recopilación y procesamiento de datos inspirado en el usuario, para la cristalografía de moléculas pequeñas y proteínas

El goniómetro motorizado desmontable más pequeño del mercado.

WDXRF

Espectrómetro WDXRF secuencial de tubo inferior, de alta potencia, con el Sistema Inteligente de Carga de Muestras (SSLS)

Espectrómetro secuencial WDXRF de alta potencia, de tubo superior con nuevo software de sistema experto Guidance (Guía) ZSX.

Espectrómetro secuencial WDXRF de tubo superior (por arriba) y de alta potencia

Espectrómetro WDXRF diseñado para manejar muestras muy grandes y/o pesadas.

EDXRF

Nuevo sistema EDXRF de 60 kV con software QuantEZ y análisis sin estándares opcional.

Nuevo sistema EDXRF de colimador variable de pequeño punto de 60 kV con software QuantEZ

El analizador elemental EDXRF de geometría cartesiana de alto rendimiento mide de Na a U en sólidos, líquidos, polvos y películas delgadas

X-ray CT

Microtomografía de muestra estacionaria de alta velocidad, de muestras grandes

Nanotomografía de resolución ultra alta utilizando geometría de haz paralelo.

Microtomografía de muestras grandes de alta resolución, de sobremesa

X-ray topography (XRT)

Un sistema de topografía de rayos X de laboratorio rápido y de alta resolución para la reproducción de imágenes de dislocación no destructiva

Thermal Analysis

TG-DTA is a hyphenated technology generally referred to as simultaneous thermal analysis (STA).

 

 

TMA is the measurement of a change in dimension or mechanical property of the sample while it is subjected to a controlled temperature program.

 

DSC is a thermal analysis technique that quantifies the amount of energy in a reaction.

TMA/HUM measures change in dimension or mechanical property of a sample while subjected to a temperature regime under water vapor atmosphere with a constant relative humidity.

Thermo Mass Photo combines simultaneous thermal analysis with mass spectrometry. This technique is suitable for the qualitative analysis of  evolved gases coincident with the STA signal.

The compact humidity generator (HUM-1) is connected to the TG-DTA for measurements under constant relative humidity water vapor atmosphere.

 

Detectors

Detector de rayos X 2D con la última tecnología de semiconductores diseñada para difractómetros de laboratorios caseros

Detector de rayos X compacto, extremadamente silencioso, enfriado por aire, basado en la tecnología de detección directa de rayos X

SAXS

Un sistema Kratky 2D modernizado que elimina las correcciones de datos requeridas por los sistemas tradicionales

Applications

The following applications are relevant to this industry

XRD

WDXRF

EDXRF

X-ray Imaging

XRD, SAXS

Protein, Single crystal

X-ray CT, Computed tomography

Small Molecule, Single crystal

Total reflection XRF (TXRF)