Element / phase analysis and molecular structure
Characterization and compositional analysis of substances like metals, ceramics or plastics that are part of any application—including space science, defense technology or any other kind of technology or product—are key in material science. X-ray technology can investigate elemental composition and layer thickness by X-ray Fluorescence (XRF) in semiconductors or other new materials. X-ray Diffraction and Scattering are primary techniques to study crystalline phases, their degree of crystallinity or crystallographic structure and orientation, texture or residual stress. XRT (X-ray topography) investigates crystalline defects in advanced materials like semiconductors, and X-ray reflectometry (XRR) measures layer thicknesses, roughness and interlayer diffusion. Associated diffuse scattering methods like SAXS examine the nature of the molecular structure of films, coatings and layers or particles in disciplines like biology, chemistry, physics, and engineering. Rigaku advanced technology and experience provide a variety of non-destructive, state-of-the-art analytical solutions and services for your materials.
Rigaku recommends the following systems:
Single crystal
Nuestro difractómetro más popular para la cristalografía química, configurado con fuentes de rayos X de microfoco de tubo sellado simple o doble y un detector de detección de rayos X directo, de ruido extremadamente bajo.
Un difractómetro de rayos X de monocristal de sobremesa, ideal para la cristalografía de autoservicio y la enseñanza.
Un difractómetro moderno de rayos X de monocristal para el análisis estructural de muestras de moléculas pequeñas configurado con la tecnología de microfoco de tubo sellado y un detector de detección de rayos X directo.
Un difractómetro de rayos X de monocristal con un generador de rayos X de microfoco de ánodo giratorio de alto flujo y un detector de rayos X HPC de detección directa
Un sistema personalizado de difracción de rayos X de monocristal que tiene la capacidad de utilizar ambos puertos de una fuente de rayos X de ánodo giratorio.
XRD
Nuevo sistema XRD de sobremesa de uso general de sexta generación para identificación y cuantificación de fase
Sistema avanzado de rayos XRD de alta resolución y tecnología de punta, impulsado por el software del sistema experto Guidance
Difractómetro de rayos X multipropósito altamente versátil con guía inteligente incorporada
Sistema XRD multipropósito de alto rendimiento para aplicaciones que van desde I+D hasta el control de calidad.
Stress
Análisis XRD de laboratorio de la tensión residual de micropuntos con métodos de inclinación iso y lateral
Small Molecule
Software de recopilación y procesamiento de datos inspirado en el usuario, para la cristalografía de moléculas pequeñas y proteínas
WDXRF
Espectrómetro secuencial WDXRF de alta potencia, de tubo superior con nuevo software de sistema experto Guidance (Guía) ZSX.
EDXRF
El analizador elemental EDXRF de geometría cartesiana de alto rendimiento mide de Na a U en sólidos, líquidos, polvos y películas delgadas
X-ray CT
X-ray topography (XRT)
Un sistema de topografía de rayos X de laboratorio rápido y de alta resolución para la reproducción de imágenes de dislocación no destructiva
Thermal Analysis
TG-DTA is a hyphenated technology generally referred to as simultaneous thermal analysis (STA).
TMA is the measurement of a change in dimension or mechanical property of the sample while it is subjected to a controlled temperature program.
TMA/HUM measures change in dimension or mechanical property of a sample while subjected to a temperature regime under water vapor atmosphere with a constant relative humidity.
Thermo Mass Photo combines simultaneous thermal analysis with mass spectrometry. This technique is suitable for the qualitative analysis of evolved gases coincident with the STA signal.
The compact humidity generator (HUM-1) is connected to the TG-DTA for measurements under constant relative humidity water vapor atmosphere.
Detectors
Detector de rayos X 2D con la última tecnología de semiconductores diseñada para difractómetros de laboratorios caseros
Detector de rayos X compacto, extremadamente silencioso, enfriado por aire, basado en la tecnología de detección directa de rayos X
SAXS
Un sistema Kratky 2D modernizado que elimina las correcciones de datos requeridas por los sistemas tradicionales